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Spectrum Two 红外光谱仪
易用、功能强大、小巧耐用 – Spectrum Two™ 是适用于任何人在任何地方日常使用的首选红外光谱仪。Spectrum Two 系统适合于各种各样的应用。Spectrum Two
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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制药Spectrum Two 红外光谱仪
Spectrum Two 红外光谱仪Spectrum Two 的设计实现了全新突破,不仅操作简便,而且具有卓越的性能和极少的维护。这是迄今为止,真正方便任何人在任何位置进行日常分析并确保真正的实验室
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环境Spectrum Two 红外光谱仪
许多行业都要求准确测定和法规要求环境下的碳氢化合物水平。从工业废水监测到土地开垦和储油设施报废,Spectrum Two可快速灵敏地分析水和土壤中的石油碳氢化合物、石油和油脂,证明它是现场分析的理想
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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聚合物Spectrum Two 红外光谱仪
紧凑耐用,非常适用于学术实验室。由于具有独特的电源 管理系统和OpticsGuardTM,您可将 Spectrum Two置入待机模式或退出该模式,而无需担心会损坏敏感的光学元件,这就显著减少了能耗和
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Spectrum Two N傅里叶变换近红外光谱仪
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半导体器件参数测试仪系统
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卓立汉光SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪
基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有
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